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田中 隆一; 須永 博美; 田村 直幸
IEEE Transactions on Nuclear Science, NS-26(4), p.4670 - 4675, 1979/00
固体絶縁物に高速電子ビームを照射したとき、空間電荷の蓄積によって生じる電子透過距離の短縮を調べるため、赤色に染色されたポリメチルメタクリレート板に、1
A/cm
以下の電子流密度の1.8MeV電子線を照射し、放射線による着色を利用して深部線量分布を測定した。その結果、電子透過距離の短縮が観測され、その短縮率が全電荷量、電子流密度、および照射温度に依存することが見出された。一方、ポアッソン方程式、電荷保存則、変位電流測定から得られた放射線誘起電流の線量率依存性、および電荷蓄積の増加に起因する深部船労分布の変形や、熱化電子の推積分布の計算を行った。その結果、実験結果は計算結果によく一致し、本計算法の信頼性が確かめられた。