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金森 隆裕*; 的場 徹; 船橋 昭昌; 鈴木 康夫
JAERI-M 8777, 35 Pages, 1980/03
遠赤外散乱法をJT-60等の高温、高密度プラズマに適用する際に必要な散乱スペクトル解析を実施し、以下の結論を得た。(1)高温プラズマ(
1KeV)では、周波数変位の大きな領域で散乱スペクトルが変形する。これは電子の散乱パラメータ
が周波数wの関数であることに起因する。このことを考慮することで、電子の側帯ピークを与える周波数から電子温度が精度よく測定できる。(2)水素プラズマ中に不純物イオンが混入すると不純物の影響で水素スペクトルのイオン項が変形する。この場合、不純物イオン密度が小さくなれば水素イオンスペクトルに対する影響は少なくなり、かつ不純物の原子番号が大きい程、水素イオンスペクトルと不純物イオンスペクトルは分離する。(3)不純物の種類が既知で、かつ水素イオンスペクトルと分離できる場合、不純物イオンスペクトルの半値幅あるいはピ-クを与える周波数から実効電荷数Zeff、およびイオン温度Tiが評価できる。
板垣 時良; 的場 徹; 船橋 昭昌; 鈴木 康夫
JAERI-M 7295, 39 Pages, 1977/09
1981年に完成予定の臨界プラズマ試験装置(JT-60)の基本プラズマパラメータであるイオン温度測定用遠赤外散乱測定法について考察した。現在までの提案報告によると遠赤外散乱測定を行なうのに必要とする高出力遠赤外レーザの出力パワーはほぼ数MWと見込んでいる。2,3年後には目標の数MWクラスの高出力遠赤外パルスレーザが実現するものと予想され、イオン温度の局所値を捌定できる有力な方法として非常に重要でありJT-60でも遠赤外散乱測定を計画している。JT-60の遠赤外散乱測定において雑音レベルを決めるのは、469
m-CH
Fレーザのときシンクロトロン輻射がショットキダイオードの推音レベルと同程度になり、また385m-D
OレーザのときショットキダイオードのNEPで決まる。このときS
=1に対応する遠赤外レーザの出力パワーはCHFレーザで4MWになる。一方Dレーザはヘテロダイン検波器の改良により0.4MW程度まで低くすることができる。
板垣 時良; 的場 徹; 熊谷 勝昭; 船橋 昭昌
JAERI-M 6476, 23 Pages, 1976/03
原研JET-2及びJFT-2aプラズマのルビー・レーザー光トムソン散乱測定において、スペクトル決定用各チャンネルの散乱パワーはガウス分布曲線に一致せず数10%変動する。この変動の原因が光電子増倍管のショット・ノイズであることを実験的に確認した。更に実際に測定した散乱スペクトルにおいて、各チャンネルの散乱パワーの変動が、ショット・ノイズから予想される誤差範囲内に含まれる事を示す。最後にトムソン散乱測定データから最適ガウス分布曲線を求める方法として、最小2乗テーラー微分補正法による計算機処理コードを付録に載せた。
