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黒田 直志; 石川 法人; 知見 康弘; 岩瀬 彰宏; 岡安 悟; 池田 博*; 吉崎 亮造*; 神原 正*
Physica C, 321(3-4), p.143 - 150, 1999/00
被引用回数:11 パーセンタイル:54.55(Physics, Applied)高温超伝導体に重イオン照射を行うと円柱状の欠陥が生じることが知られており、円柱状欠陥を持つ高温超伝導体の磁束ピニングや磁束の動的挙動に興味が持たれている。われわれは、異方性の異なるBi(Sr,La)CuO単結晶とBiSrCaCuO単結晶において重イオン照射により円柱状欠陥を導入し、その時の磁束の動的挙動を交流帯磁率測定により調べ、異方性が磁束の動的挙動にどのように影響するか調査した。BiSrCaCuO単結晶にでは、ボーズグラス転移が見いだされたが、非常に異方性が強いBi(Sr,La)CuOではボーズグラス転移は見いだせなかった。これは、2次元の極限では、グラス転移が0K以上で起こらないことに対応していると考えられる。
黒田 直志*; 石川 法人; 岡安 悟; 岩瀬 彰宏; 池田 博*; 吉崎 亮造*; 神原 正*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 146(1-4), p.572 - 576, 1998/00
被引用回数:0 パーセンタイル:0.01(Instruments & Instrumentation)重イオン照射されたBi系超伝導体において、交流帯磁率の損失ピークの周波数依存性が測定された。Bi-2212単結晶においてボーズグラス転移が表れるが、Bi-2201単結晶においては表れなかった。これは、Bi-2201単結晶の異方性が非常に小さいことに起因している。