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廣木 章博; 浅野 雅春; 八巻 徹也; 吉田 勝
Chemical Physics Letters, 406(1-3), p.188 - 191, 2005/04
被引用回数:11 パーセンタイル:34.95(Chemistry, Physical)本論文では、重イオン照射したポリエチレンテレフタレート(PET)膜の潜在飛跡に及ぼす線照射の影響を検討した。Xeイオン照射したPET膜にエッチングの前処理として
線を0-160kGy照射し、その後、70
C, 0.2M NaOH溶液中で所定時間エッチングを行い、イオン穿孔膜を作製した。イオン穿孔膜の孔径を、走査型電子顕微鏡(SEM)観察と電気伝導度測定により求めた。その結果、
線照射線量の増加に伴い、SEM観察により得られた孔径は減少し、一方、電気伝導度測定により得られた孔径は増大することがわかった。観察手法の違いにより生じた孔径の不一致は、
線照射により潜在飛跡内に生じた架橋構造に起因していると考察した。