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論文

半導体ソフトエラーの数値シミュレーション

安部 晋一郎

CROSS T&T, (76), p.39 - 43, 2024/02

我々の住む地上には宇宙から放射線が絶えず降り注いでおり、これによって電子機器に生じる一時的な誤動作(ソフトエラー)の発生率を評価することは、電子機器の信頼性を保障するために重要となる。一般財団法人総合科学研究機構(CROSS)の発刊するCROSS T&T誌の解説記事において、放射線挙動解析コードPHITSを用いたソフトエラーシミュレーション技術の研究開発や、新たに開発した地上でのソフトエラー発生率の評価手法などについて紹介する。

論文

環境放射線と半導体デバイスのソフトエラー; 環境放射線起因ソフトエラーのシミュレーション

安部 晋一郎

日本原子力学会誌ATOMO$$Sigma$$, 65(5), p.326 - 330, 2023/05

電子機器の信頼性問題として、地上に降り注ぐ二次宇宙線の中性子やミューオンによって生じる電子機器の一時的な誤動作(ソフトエラー)がある。高い信頼性が求められる電子機器の数は社会の進歩とともに増えており、これらすべての機器のソフトエラー発生率(SER: Soft Error Rate)を実測的な方法で評価することは難しい。また機器の製造前の段階でSERを評価することも求められており、シミュレーションによるSER評価の重要性が高まっている。原子力学会誌の解説記事において、放射線挙動解析コードPHITSを用いたソフトエラーシミュレーション技術の研究開発や、ソフトエラー発生の物理過程の詳細解析結果について紹介する。

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