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口頭

Numerical simulation of gas entrainment phenomena in sodium-cooled fast reactor with high-precision interface-tracking method

伊藤 啓; 功刀 資彰*; 小泉 安郎*; 大野 修司; 大島 宏之

no journal, , 

ナトリウム冷却炉における熱流動課題の1つであるガス巻込み現象を評価するため、われわれは高精度界面追跡法に基づく数値解析手法の開発を行っている。本解析コードは、体系形状を正確に模擬するため非構造格子スキームを採用しており、また、界面追跡法に関して、高精度Volume-of-fluid法をベースとして新たな手法を開発している。基本検証解析の結果、従来のコードを凌駕する解析精度が得られることが確認され、また、ガス巻込み現象に関しても試験結果のガス巻込み量を再現できることが分かっている。

口頭

Manufactured Solutionを用いた高精度界面追跡法の検証

伊藤 啓; 功刀 資彰*; 大島 宏之

no journal, , 

本研究では、高速炉ガス巻込み現象を念頭に、渦流れによる気液界面の動的変形を対象としたManufacutured Solutionの開発を行う。まず、軸対称系において連続式と気液界面における条件式を満足する流速・圧力を決定し、また、界面くぼみが時間成長するとともにくびれが発生して気泡が千切り取られる挙動をモデル化した。基礎検証解析として正確な速度場を与えた上で動的界面輸送計算を行った結果、妥当な界面形状が得られたため、開発したManufactured Solutionが適切な検証問題となり得ることを確認した。

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