Very high electron temperature diagnostics using combined ruby and YAG laser Thomson scattering systems in JT-60U

波多江 仰紀; 内藤 磨

Proceedings of 10th International Symposium on Laser-Aided Plasma Diagnostics, p.160 - 166, 2001/00

JT-60Uにおける近年の強電子加熱実験では15keVを越える中心電子温度がルビーレーザとYAGレーザによる2つのトムソン散乱測定装置で観測されている。しかしながら、その電子温度は設計で想定していた電子温度を越えているため電子温度の相対誤差は非常に大きく、15keVを越える超高温を高い精度で測定するのは困難である。この論文では、このような超高温の測定性能を改善するために、既存のルビーレーザシステムとYAGレーザシステムを組み合わせて超高温での測定性能が改善されるかどうか検討した。シミュレーションの結果から、(1)YAGレーザトムソン散乱システムの光源にルビーレーザを使用し散乱スペクトルの形を変化させることは、超高電子温度の測定に効果があることがわかった。(2)ルビーレーザの測定系とYAGレーザの測定を組み合わせ、YAGレーザでトムソン散乱を行った場合、20keVの領域で既存の測定系よりも相対誤差が著しく低下し測定性能が改善することがわかった。