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論文

Formation and dynamics of exciton pairs in solid argon probed by electron-stimulated ion desorption

馬場 祐治; G.Dujardin*; P.Feulner*; D.Menzel*

Physical Review Letters, 66(25), p.3269 - 3272, 1991/06

https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.66.3269
 被引用回数：24 パーセンタイル：77.92(Physics, Multidisciplinary)

固体アルゴン及びクリプトンからのAr$$^{+}$$、Ar$$_{2+}$$、Ar$$^{2+}$$及びKr$$^{+}$$イオンの電子衝撃脱離(ESD)挙動を10~120eVの照射エネルギー範囲で調べた。脱離に必要な照射エネルギーのしきい値は、Ar$$^{+}$$及びAr$$_{2+}$$で24.2eV、Kr$$^{+}$$で30eVであった。またAr$$^{2+}$$はAr$$^{3+}$$の生成に対応する84eVにおいて初めて脱離する。Ar$$_{2+}$$の脱離では、24.2eV、25.4eV、34eV、50eVに共鳴構造が認められた。前者2つの構造は、表面及びバルクに存在する隣接する2原子のエキシトン生成に対応する。25.4eVの脱離ピーク強度の厚み依存性を調べたところ、バルクのエキシトン対の拡散は、100層以上にも及ぶことが明らかとなった。

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