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吉野 洋子; 財部 健一*; 石井 真史*; 片山 芳則; 下村 理
Physica B; Condensed Matter, 273-274, p.781 - 783, 1999/12
被引用回数:1 パーセンタイル:8.70(Physics, Condensed Matter)DX状態は強く局在している。この性質は、局在している電子が空になった内殻に緩和する過程を観察することによって調べることができる。われわれは、放射光を用いることによって、AlGaAs:Se (x=0.33,(cm))の二つの異なった光イオン化の過程を見いだした。この二つは、以下の過程に仮に同定される。一つは、内殻電子の伝導帯(CB)への直接遷移とそれに続くDXセンターの電子の空になった内殻への捕獲でありK-edge、 もう一つはDXセンターの電子のCBはのオージェイオン化とそれに続く他の電子の空になった内殻への捕獲である K-edge。
加藤 隆子*; 森林 健吾*; 村上 泉*; 大平 光彦*; 久保 博孝; 清水 勝宏
Proc. of 1996 Int. Conf. on Plasma Physics, 1, p.730 - 733, 1996/00
JT-60Uでは、ダイバータ・プラズマにおいて炭素イオンが発する可視光の絶対強度分布を測定している。今までの研究では、CIIおよびCIVについては密度効果を考慮した励起機構によって測定された強度分布がよく説明できたが、CIIIについては計算結果と食い違いがあった。本研究では、CIIIについては準安定状態にあるイオンが基底状態にあるイオンより多いことに着目し、準安定状態および時間発展を考慮したレート方程式によってイオンの存在率を計算した。その結果、CIIIの準安定状態がCIIの基底状態の内殻電離によって生成され長時間存在することがわかった。これにより、JT-60Uで測定されたCIIIの線強度分布が説明できた。
川面 澄; 小沢 国夫; 藤本 文範*; 寺沢 倫孝*
Phys.Lett.,A, 58(7), p.446 - 448, 1976/07
原研の2MV VdGを用いて、陽子、ヘリウム、窒素、アルゴン等の荷電粒子をLiO、BeO、BO、MgO、AlO、SiOの酸化物ターゲットに照射し、発生したX線をBragg型の結晶分光器で測定した。KX線以外にKL、K、KL等の多重電離によるX線を観測した。 クーロン励起による電離機構が支配している領域において、K殻の二重電離の断面積がZ依存性からはずれることが見出された。