ひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置

小高 進; 吉田 英一; 加藤 章一

小嶺 徳晃*; 石上 勝夫*

JP, 2005-087548  Patent licensing information  Patent publication (In Japanese)

【課題】超高サイクル疲労試験を短時間で実施することができるひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置を提供する。 【解決手段】試験条件として、少なくとも試験片1の標点間の全ひずみ範囲Δεtおよび制御速度Fを設定する第1工程と、試験片の標点間の全ひずみ範囲の設定値に相当する非接触式変位計20の目標制御範囲ΔLTを求める第2工程と、制御速度Fで且つ非接触式変位計の計測値の振幅が上記目標制御範囲ΔLTで一定となるように試験片に繰返し荷重を作用させて、非接触式変位計によるひずみ制御下で疲労試験を行う第3工程とを有する。第2工程では、接触式ひずみ計10が追従可能なひずみ速度で試験片に繰返し荷重を作用させたときの接触式ひずみ計の計測値と、非接触式変位計の計測値とを取得し、それら計測値から両者の相関関係を求めて、当該相関関係に基づいて、上記目標制御範囲ΔLTを求める。