真空質量測定装置

阿部 哲也

照沼 孝造*; 小竹 富雄*

JP, H16-304402  Patent licensing information  Patent publication (In Japanese)

【課題】秤量過程中に秤量手段の校正を可能とし、秤量手段の特性変化を補償する。 【解決手段】真空容器1の蓋部3を開けて、計量皿18に被計量物Mを入れた試料容器2を載置した後に、真空容器1内の空気を排出してから測定を始めると、被計量物Mの重量は電子天びん10により検出され、制御表示部11にその数値が表示される。電子天びん10は高温の被計量物Mによる温度の影響による特性変化が避けられず、秤量過程において電子天びん10の校正を頻繁に行う必要がある。この校正は一時的に測定を中止し、遠隔的にカム22をモータ21により回動することにより、レバー20を動かして筒部14を上昇させ、筒部14の上端のフランジ15により計量皿18を上昇させて支持する。この計量皿18の上昇により、荷重伝達棒17は中間部において上部17Aと下部17Bに分離されるので、その状態で零点調整による校正が可能となる。