Characteristics study on suspended fine particles in aqueous phenol solution formed by electron beam irradiations

電子線照射によって生成するフェノール水溶液中浮遊粒子の特性研究

田口 光正; 善如寺 芳弘*; 瀧上 真知子*; Baldacchino, G.*; 木村 敦; 平塚 浩士*; 南波 秀樹; 小嶋 拓治

Taguchi, Mitsumasa; Zennyoji, Yoshihiro*; Takigami, Machiko*; Baldacchino, G.*; Kimura, Atsushi; Hiratsuka, Hiroshi*; Namba, Hideki; Kojima, Takuji

室温大気圧下において、濃度1040mMのフェノール水溶液に2MeVの電子線及びCo線を照射した結果、白濁が観測された。この試料溶液の分析により、OHラジカルの付加した生成物と直径100-800nm程度の微粒子の生成が認められた。微粒子の直径は高線量になるに伴い増大し、また、同一線量では、フェノールの初期濃度が高いほど粒径が大きくなった。さらに、線量率を変えて照射した場合、線量率が高くなるに伴い平均粒径が小さくなり、かつ分布幅も狭くなった。また、微粒子は分子量1.910程度の分子から構成されていることがわかった。

The suspended fine particles formed in aqueous phenol solution under high dose irradiation were studied using the MeV electron beam and Co -ray irradiations. The fine particle's size was 100-800 nm in diameter and became bigger at higher dose and lower dose rate. The distributions of the particle size became narrower for irradiation at higher dose rate. The fine particles were regarded to consist of molecules of about 1.910 molecular weight.