JT-60U分光計測装置のノイズ調査と対策

永谷 進; 鬼沢 正美*; 川井 勲*; 仲田 久夫*; 久保 博孝; 杉江 達夫

JAERI-Tech 97-062, 21 Pages, 1997/11

JAERI-Tech-97-062.pdf:0.89MB

臨界プラズマ試験装置(JT-60U)では、負イオンを用いた中性粒子入射装置(N-NBI)の運転を開始した。その加速電極間での放電破壊が発生すると、JT-60U周辺機器にノイズ障害が発生する。分光計測装置の一部もこのノイズによって、制御回路系が誤動作して正常にデータを取れなくなる状況が生じた。JT-60U運転でのダイバータ斜入射分光測定装置の制御回路系内部のノイズを、光ファイバー・アイソレーション・システムを使って測定した。振幅15~18V周波数15MHzのノイズが観測されたため、制御回路に出入りするすべてのケーブルにフェライトコアを取りつけた。その結果、電導ノイズをほぼゼロレベルまで減少させることができ、分光計測装置の誤動作を防止することができた。