Transport Analysis of OH and NBI Heated Discharges in JT-60

平山 俊雄; 清水 勝宏; 菊池 満; 白井 浩; JT-60チーム

JAERI-M 87-029, 30 Pages, 1987/03

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1次元トカマク輸送コ-ドシュミレ-ションによって、JT-60におけるOHおよびNBI加熱プラズマの輸送特性を解析した。OHプラズマにおけるエネルギ-閉じ込め時間のプラズマ密度上昇に併う飽和現象は、イオン系からのエネルギ-損失が支配的となる為であり、イオン熱伝導率が新古典理論の10倍程度あると仮定すると、計算結果は実験結果を良く表現できる。又、プラズマの電気伝導率は、古典的であり、捕捉電子効果は小さい事が示された。NBI加熱に併うエネルギ-閉じ込め時間の劣化は電子熱伝導の増加によるものであり、20MW入射の場合、Heプラズマで4Xe,Hプラズマ2Xe実験結果が説明できる。又、ビ-ム粒子のエネルギ-密度を考慮すると、平衡から評価された蓄積エネルギ-とプラズマ密度と温度から評価した蓄積エネルギ-は良い一致を見る事が示された。