残留応力測定回折計

Diffractometer for residual stress analysis

材料開発、新物質の理解にはその構造を原子的尺度で解明し、それに基づいた物質諸性質を理解することが必要である。X線、中性子線等を用いた回折結晶学の歴史は古く、物質の構造に関し最も信頼し得る結果を与えてくれる手段を提供する学問として発展し、その実績もあり、広く利用されてきた。最近の結晶学における新しい成果や技術を時代の要求に即応して、ハンドブックの形に集大成することとなった。ここでは中性子回折法による残留応力解析装置に関して、その原理、特徴、手法、測定例などを簡潔に記し、入門者のためのハンドブックとした。

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使用言語	:	Japanese
掲載資料名	:	結晶解析ハンドブック
巻	:
号	:
ページ数	:	p.472 - 476
発行年月	:	1999/09
発表会議名	:
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キーワード	:	中性子回折; 残留応力解析; 応力; ひずみ; 有限要素法; 集合組織; 結晶異方性

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登録番号 : A19990212
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