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放射光X線異常分散を利用した薄膜構造研究

Structure study of thin films by employing anomalous dispersion of synchrotron X-rays

水木 純一郎; 木村 英和*

Mizuki, Junichiro; Kimura, Hidekazu*

放射光X線の特長の一つである波長選択性を利用した構造研究方法と、それらを利用した研究例を紹介する。X線異常分散を利用することにより特定原子種に注目した構造解析が可能とになる。その例としてDAFS法について、その原理、解析方法及び実験例を紹介し、DAFS法の魅力、放射光X線の威力について述べる。

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