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Electronic phase separation in lightly doped La$$_{2-x}$$Sr$$_{x}$$CuO$$_{4}$$

La$$_{2-x}$$Sr$$_{x}$$CuO$$_{4}$$低ホール濃度領域におけるホール相分離

松田 雅昌; 藤田 全基*; 山田 和芳*; Birgeneau, R. J.*; 遠藤 康夫*; 白根 元*

Matsuda, Masaaki; Fujita, Masaki*; Yamada, Kazuyoshi*; Birgeneau, R. J.*; Endo, Yasuo*; Shirane, Gen*

La$$_{2-x}$$Sr$$_{x}$$CuO$$_{4}$$低ホール濃度領域(0.02$$<$$x$$<$$0.055)における磁性を調べるために詳細な中性子散乱実験が行われてきた。その結果、この絶縁スピングラス領域において非整合磁気ピークの現れる位置が超伝導相(水平ストライプ構造)で観測される位置と比べて($$pi$$,$$pi$$)を中心に45度回転しており、斜めストライプ構造を反映していることが明らかになった。次のステップとして、われわれは、さらに低ホール濃度領域(0$$<$$x$$<$$0.02)における磁気相関を調べるために中性子散乱実験を行った。このホール濃度領域では、室温から温度を下げていくとまず反強磁性磁気秩序が起こる。さらに温度を下げていくと30K付近で磁気秩序領域の一部が斜めストライプ相関を持つクラスタースピングラス相に置き換わることが明らかになった。非整合度$$varepsilon$$の値からスピングラス領域のホール濃度を見積もると0$$<$$x$$<$$0.02の領域でほぼ2%であった。また、散乱強度からスピングラス領域の大きさ(体積分率)を見積もるとxが0から0.02に増加する際に体積分率が0から1にほぼ比例して変化することがわかった。これらの結果を総合して考えると、La$$_{2-x}$$Sr$$_{x}$$CuO$$_{4}$$(0$$<$$x$$<$$0.02)では30K以下でホール濃度が~0%の領域と~2%の領域に相分離し、ホール濃度の増加とともに2%の領域が増大すると考えられる。

no abstracts in English

使用言語

 :

English

掲載資料名

 :

Physical Review B

巻

 :

65

号

 :

13

ページ数

 :

p.134515_1 - 134515_6

発行年月

 :

2002/04

発表会議名

 :

開催年月

 :

開催都市

 :

開催国

 :

キーワード

 :

高温超伝導; スピングラス; 中性子散乱; La$$_{2-x}$$Sr$$_{x}$$CuO$$_{4}$$

特許データ

 :

PDF

 :


論文URL

 :

https://doi.org/10.1103/PhysRevB.65.134515

研究データの公開先DOI

 :

使用施設

 :

広報プレスリリース

 :

論文解説記事
(成果普及情報誌)

 :

受委託・共同研究相手機関

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Access

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- Accesses

InCites™

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パーセンタイル：96.62

分野：Materials Science, Multidisciplinary

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