高温工学に関する先端的基礎研究用HTTR照射試料の温度評価

Temperature evaluation of irradiation specimens in the HTTR for innovative basic research

Ishihara, Masahiro; Baba, Shinichi; Takahashi, Tsuneo*; Aihara, Jun; Shibata, Taiju; Hoshiya, Taiji

HTTRを用いた高温工学に関する先端的基礎研究としての照射試験は平成15年度に開始される予定である。試験では、照射温度が400 $^{circ}C$ から600 $^{circ}C$ ,高速中性子照射量(E0.18MeV)が110 $^{21}$ から310 $^{23}$ m $^{-2}$ を目標としている。照射予定の試験片は、高温半導体SiC試験片,超電導体Bi-2212試験片,耐熱セラミックス系の黒鉛試験片,SiC試験片及びジルコニア試験片である。そこで、熱伝導率の高い黒鉛試験片と熱伝導率の低いジルコニア試験片を評価対象として、キャプセル内に装荷された試験片の温度を解析的に検討した。検討の結果、本キャプセルにより黒鉛試験片では約450 $^{circ}C$ ~590 $^{circ}C$ の温度域で照射試験が可能で、かつ試料装荷領域内でほぼ均一の温度条件が達成されること、ジルコニア試験片では450 $^{circ}C$ ~600 $^{circ}C$ の温度域で照射試験が可能で、試料装荷領域内の温度差は最大30 $^{circ}C$ 程度見積もられること、炉心上部可動反射体領域の照射ではジルコニア試験片も試料装荷領域内の温度差が1 $^{circ}C$ 以下と小さくなり、ほぼ均一の照射温度が達成できること等が明らかとなった。

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使用言語	:	Japanese
報告書番号	:	JAERI-Tech 2002-054
ページ数	:	169 Pages
発行年月	:	2002/07
特許データ	:
PDF	:	JAERI-Tech-2002-054.pdf:5.93MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-tech-2002-054
キーワード	:	Temperature Evaluation; Irradiation Specimen; HTTR; Analysis; Finite Element Method
使用施設	:
広報プレスリリース	:
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登録番号 : T20020054
抄録集掲載番号 : 300925

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