RBS and SEM analysis of the nickel-fullerene hybrid systems

ラザフォード散乱法及び走査型電子顕微鏡を用いたニッケル-フラーレン複合系の解析

Vacik, J.; Naramoto, Hiroshi; Narumi, Kazumasa; Yamamoto, Shunya; Abe, Hiroaki*

ニッケルとフラーレンとの混合薄膜及び同じ組合せの多層膜をMgO(100)結晶基板上に作製後、不活性ガス雰囲気で熱処理した時に起こる、フラーレンの移行, 分解, ニッケルの内部移動など、をラザフォード後方散乱法で調べるとともに、それに伴う表面形態の変化を走査型電子顕微鏡により観察し、相関を調べる。特に、歪が蓄積する高温下での熱処理により、通常と異なり、Niなどの内部への拡散・移動が見られ、それに伴って誘起されるナノレベルの自己組織化した縞状組織をMgOとの界面で見出した。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B
巻	:	206
号	:
ページ数	:	p.395 - 398
発行年月	:	2003/05
発表会議名	:	13th International Conference on Ion Beam Modification of Materials (IBMM 2002)
開催年月	:	2002/09
開催都市	:	Kobe
開催国	:	Japan
キーワード	:	Fellerene; Ni; Mixture; Ion Beam Analysis; SEM Analysis

特許データ	:
PDF	:

論文URL	:	https://doi.org/10.1016/S0168-583X(03)00770-5
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:	TIARA(イオン照射研究施設)
広報プレスリリース	:
論文解説記事 (成果普及情報誌)	:
受委託・共同研究相手機関	:

Access	:	- Accesses
Web of Science® Times Cited Count	:	被引用回数：評価・統計等のため最新の被引用回数を確認したい場合は、直接Web of Science®をご確認ください。 http://www.webofknowledge.com/wos
InCites™	:	パーセンタイル：53.35 分野：Instruments & Instrumentation
Altmetrics	:

登録番号 : B20020443
抄録集掲載番号 : 48000031
論文投稿番号 : 22394

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