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The Postspinel Phase Boundary in Mg$$_{2}$$SiO$$_{4}$$ Determined by in Situ X-ray Diffraction

その場X線観察により決定されたMg$$_{2}$$SiO$$_{4}$$のポストスピネル相境界

入舩 徹男*; 西山 宣正*; 黒田 幸治*; 井上 徹*; 一色 麻衣子*; 内海 渉; 舟越 賢一*; 浦川 啓*; 内田 雄幸*; 桂 智男*; 大高 理*

Irifune, Tetsuo*; Nishiyama, Norimasa*; Kuroda, Koji*; Inoue, Toru*; Isshiki, Maiko*; Utsumi, Wataru; Funakoshi, Kenichi*; Urakawa, Satoru*; Uchida, Takeyuki*; Katsura, Tomoo*; Otaka, Osamu*

Mg$$_{2}$$SiO$$_{4}$$のスピネルとぺロフスカイト+ペリクレスの相境界をSPring-8放射光とマルチアンビル型高圧装置を用いて、その場X線観察の手段により決定した。1600$$^{circ}C$$における同境界は、21.1GPaあたりにあり、従来の試料急冷回収法による推測より約2GPa低かった。

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分野:Multidisciplinary Sciences

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