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Depth profile of tritium in plasma exposed CX-2002U

プラズマに照射されたCX-2002Uにおける試料深さ方向トリチウム分布

田所 孝広*; 磯部 兼嗣; 大平 茂; 洲 亘; 西 正孝

Tadokoro, Takahiro*; Isobe, Kanetsugu; Ohira, Shigeru; Shu, Wataru; Nishi, Masataka

プラズマ対向壁候補材の一つであるCX-2002U試料に高フルーエンスD/T RFプラズマを照射し、試料中の深さ方向トリチウム濃度分布をオートラジオグラフィの手法を用いて測定した。D/Tガス照射との比較から、低エネルギーD/T原子が試料内部深さ方向位置100$$mu$$m付近まで拡散していることがわかった。また、深さ方向トリチウム濃度分布から導きだした拡散係数は、照射時試料温度293Kにおいては1.7$$times$$10$$^{-16}$$m$$^{2}$$/s,573Kにおいては2.3$$times$$10$$^{-15}$$m$$^{2}$$/sとなり、従来のバルク拡散における値と比較して10$$^{7}$$程度大きいことから細孔内拡散が保持量に重要な役割を果たしていることがわかった。D/T RFプラズマ照射後、酸素RFプラズマを照射した試料における結果から、試料内部深さ方向位置100$$mu$$m付近までのトリチウムが除去されていることがわかり、試料内部のトリチウム除去に酸素RFプラズマ照射が有効であることがわかった。

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パーセンタイル:20.05

分野:Materials Science, Multidisciplinary

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