ナノ秒干渉画像計測システムの開発とレーザーアブレーションダイナミクス解明への応用

Development and application of nanosecond interferometry for the clarification of laser ablation dynamics

not registered; Fukumura, H.*; not registered

エキシマレーザー照射による高分子フィルムのナノメートルオーダーの微小な形態変化をナノ秒の時間分解能で測定するために開発したナノ秒干渉画像計測について述べ、3種類の物理的・化学的に異なる高分子フィルムのレーザー誘起形態変化のダイナミクスに関する研究結果をまとめた。その結果から、エキシマレーザー照射によって誘起される高分子の微小な形態変化が、高分子の性質及び集合状態・構造を反映していることがわかった。この手法は、高分子のレーザーアブレーション過程、レーザー誘起状態変化を観測し、その機構を解明する有効な手法であることを示した。

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発表言語	:	Japanese
掲載資料名	:	レーザー研究
巻	:	25
号	:	4
ページ数	:	p.288 - 295
発行年月	:	1997/04
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	Laser Ablation Dynamics; Nanosecond Interferometry; Morphological Dynamics; Ablation Mechanism; Polymer Film

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論文URL	:	https://doi.org/10.2184/lsj.25.288
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登録番号 : A19970012
抄録集掲載番号 : 250513
論文投稿番号 : 14769

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