冷中性子三軸型分光器(LTAS,C2-1)に付設された中性子反射率計

A Neutron reflectometer installed at the cold neutron triple-axis spectrometer (LTAS,C2-1) in JRR-3M

曽山 和彦  ; 目時 直人   ; 皆川 宣明; 鳥飼 直人*; 松下 裕秀*

Soyama, Kazuhiko; Metoki, Naoto; Minakawa, Nobuaki; not registered; not registered

JRR-3Mのビームホールに設置された新しい中性子反射率計の装置概要及び最近の研究成果について述べる。中性子反射率測定法は、全反射臨界角程度の小さな入反射角における中性子反射率を測定することによって、物質表面や薄膜の深さ方向の構造を数A°の分解能で決定する方法である。中性子は軽元素に対しても強いコントラストを持つため、高分子/生体薄膜の研究には必要不可欠な実験手段である。また中性子はスピンを持つために磁性薄膜や超伝導薄膜の研究にも応用されている。本反射率計は、高分子、液体、金属多層膜等の物性研究及び多層膜ミラー等の中性子光学デバイス開発を目的として、高Q領域の測定が可能で高中性子強度の装置として開発された。その結果、110n/sの入射強度と6桁以上のダイナミックレンジを有し、また測定可能Q領域は0.3A°と物性研究に利用できる国内で数少ない装置であることを確認できた。

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