宇宙線によるシリコンデバイスの劣化

Effects of space radiation on silicon devices

宇宙環境下で広く用いられているシリコンデバイスのうち、太陽電池とLSIについて宇宙放射線の影響を解説する。人工衛星の太陽電池は宇宙放射線を受け易く、照射損傷に起因する出力劣化は人工衛星の寿命を決める要因となっている。最近、陽子線や電子線の照射によりシリコン太陽電池の出力が初期値の30~40%に達すると、突然ゼロになる現象を見出した。この現象を解析した結果、出力の急落は少数キャリアのドリフト長の低下に起因することが分かった。LSIに関しては、銀河宇宙線に含まれる超高エネルギーの重イオンがLSIに入射して発生するシングルイベント効果のメカニズムを説明し、実際の宇宙環境で使用されているメモリー素子のシングルイベント・ソフトエラーについての実験結果を紹介する。

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使用言語	:	Japanese
掲載資料名	:	マテリアルライフ
巻	:	9
号	:	2
ページ数	:	p.69 - 72
発行年月	:	1997/04
発表会議名	:
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開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	宇宙放射線; 太陽電池; シングルイベント効果; ソフトエラー

特許データ	:
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論文URL	:	https://ci.nii.ac.jp/naid/10002003090
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登録番号 : A19970089
抄録集掲載番号 : 250610
論文投稿番号 : 14838

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