栗林 勝*; 富満 広; 侘美 克彦*; 井上 哲*; 石田 興太郎*; 相澤 一也 
; 岡安 悟 ; 富田 博文*; 数又 幸生*; Y.C.Jiang*; 田中 弘之*; 加藤 弘之*
not registered; Tomimitsu, Hiroshi; not registered; not registered; not registered; Aizawa, Kazuya; Okayasu, Satoru; not registered; Kazumata, Yukio*; Y.C.Jiang*; not registered; not registered
高エネルギー(80~230MeV)の重イオン(Ni,Cu,Au)を、(111)表面を有するSi単結晶板に打込み(1~50
10
/cm
)、結晶中に生じた照射損傷を、X線回折(三結晶法)で観察した。解析は動力学的理論で行い、結晶中の歪み分布を決定した。その結果、結晶表面付近には損傷がなく、深い部分にだけ歪みが生じること、その分布は、「イオン停止位置」(Stopping Powerによる計算)ではなく、むしろ「はじき出し損傷率分布」に近いこと、照射量と歪み分布の大きさが比例すること、等が明らかになった。なお、照射は原研タンデム加速器で、X線回折はKEKのPF等で行った。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 36 |
号 |
: | 12A |
ページ数 |
: | p.7296 - 7301 |
発行年月 |
: | 1997/12 |
キーワード |
: | 重イオン照射; Si単結晶; 三結晶X線回折; 格子歪み; タンデム加速器; KEK-PF; Stopping Power; はじき出し損傷率 |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：36.78 分野：Physics, Applied |
Altmetrics |
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