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The Roles of adsorbate-substrate interaction and adsorbate-adsorbate interaction in core-hole induced fragmentation

内殻正孔誘起分解における吸着種-基板相互作用と吸着種-吸着種相互作用の役割

関口 哲弘  ; 馬場 祐治  

Sekiguchi, Tetsuhiro; Baba, Yuji

単分子~多分子吸着層表面について、脱離イオンのフラグメントパターンと脱離収量の励起光エネルギー依存性を測定し、電子励起に起因する表面解離反応における凝集効果を調べた。試料系としてはSi-F結合とSi-C結合を選択して励起でき、結合切断パターンがどう変わるかが興味深いSi(CH$$_{3}$$)$$_{3}$$Fを低温銅(111)基板上に凝縮させたものを用いた。単分子層で得られた結果の特徴はCH$$_{3+}$$,F$$^{+}$$など軽いイオンが脱離すること、特にF$$^{+}$$$$sigma$$$$^{+}$$(Si-F)共鳴励起でのみ生じることである。多分子層ではSiX$$_{3}$$,(X=CH$$_{3}$$,F)や親イオンなど大きなフラグメントが生成し、共鳴励起よりもイオン化連続状態で増加した。低分子層では直接解離によるフラグメント生成のみが起こるためそれが主過程となる。一方、約3~5分子層以上では直接解離との競争過程として多価イオンを経由し複数の分子が関与するような間接的過程が主過程となると結論した。

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