An Additional axis for the surface X-ray diffractometer

表面X線回折計のもうひとつの回転軸

SPring-8の原研ビームラインに設置される表面X線回折計に組み込まれる新しい機構を考案した。それは、試料表面からの回折X線を受ける受光スリットをその面内で回転させるというものである。これにより、散乱条件の変化に伴う受光スリットの角度分解能の変化を補正することが容易になり、表面X線回折強度を高い精度で測定することができるようになる。本機構は、任意の入射角・出射角を用いた回折実験に対して有効な補正因子に関する考察に基礎をおくものである。論文及び講演では、補正因子の算出の方法と、回転スリットの実際の調整方法についても述べる。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Journal of Synchrotron Radiation
巻	:	5
号	:
ページ数	:	p.893 - 895
発行年月	:	1998/00
発表会議名	:	6th Int. Conf. on Synchrotron Radiation Instrumentation (SRI '97)
開催年月	:	1997/08
開催都市	:	姫路
開催国	:
キーワード	:	表面X線回折; 補正因子; 回転スリット

特許データ	:
PDF	:

論文URL	:	https://doi.org/10.1107/S0909049597016014
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:
広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
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InCites™	:	パーセンタイル：72.05 分野：Instruments & Instrumentation
Altmetrics	:

登録番号 : B19970670
抄録集掲載番号 : 270768
論文投稿番号 : 16581

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