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クラスターイオンビームの開発とその利用

Development of cluster ion beam irradiation

齋藤 勇一; 田島 訓; 水橋 清; 神谷 富裕; 酒井 卓郎; 内藤 豊*

Saito, Yuichi; Tajima, Satoshi; Mizuhashi, Kiyoshi; Kamiya, Tomihiro; Sakai, Takuro; not registered

MeV分子・クラスターイオンビームは照射ターゲットに与える影響が非線形効果のため通常の単原子イオンビームと異なることが予想される。我々はC$$_{60}$$イオンの生成・加速に着手した。その結果、C$$_{60}$$をスパッター型負イオン源で生成すると短時間でビーム電流が減少するとされていたが、これをスパッターカソードの作製時の圧力及びイオン源作動パラメータの最適化により安定に生成することに成功した。これまでのところ、C$$_{60}$$イオンはタンデム加速器低エネルギーライン末端まで輸送されている。また、C$$_{2}$$~C$$_{4}$$について、C.E.I.による構造の観測を行った。観測手段としてこれまでCR39上の痕跡を利用していたが、新たに蛍光体付MCPとビデオカメラを用いてリアルタイム計測を可能とした。

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