Short pulse X-ray generation via backward Thomson scattering on relativistic electron beam

後方トムソン散乱による極短パルスX線の発生

小瀧 秀行; 中島 一久*; 神門 正城*; 出羽 英紀*; 近藤 修司; 酒井 文雄*; 渡部 貴宏*; 上田 徹*; 中西 弘*; 吉井 康司*; 小方 厚*; 木下 健一*; 上坂 充*

Kotaki, Hideyuki; Nakajima, Kazuhisa*; Kando, Masaki*; Dewa, Hidenori*; Kondo, Shuji; not registered; Watanabe, Takahiro*; Ueda, Toru*; Nakanishi, Hiroshi*; Yoshii, Koji*; Ogata, Atsushi*; Kinoshita, Kenichi*; Uesaka, Mitsuru*

極短パルスX線は、物理、化学、医学等さまざまな分野での応用が考えられており、世界中で研究が行われている。250mJのTi:SapphireレーザーとPhotocathode RF-Gunからの20MeVの電子ビームを使い、後方トムソン散乱による極短パルスX線発生の実験を行った。Photocathode RF-Gunからの電子ビームを、バンチ圧縮シケインを使ってバンチ圧縮し、それにより、lnC,500fsの電子ビームの発生に成功した。サブピコ秒の電子ビームとTi:Sapphireレーザーとを用いて、後方トムソン散乱によりサブピコ秒のX線を発生させた。レーザーと電子ビームの衝突のタイミングや、衝突点でのレーザーのポジションを変化させ電子ビームをレーザーでスキャンし、X線シグナルの測定を行い、後方トムソン散乱によるX線であることを確認した。

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