JT-60イオンサイクロトロン高周波加熱装置用健全性診断システムの開発

Development of diagnostic system for JT-60 ICRF heating system

Yokokura, Kenji; Moriyama, Shinichi; Terakado, Masayuki

JT-60高周波加熱装置では、運転開始以来11年が経過し、経年劣化が原因で発生した異常の発生頻度が年々増加してきた。そのような状況下で効率の良い高周波加熱実験を支障なく進めるには、同高周波加熱装置の健全性を定常的に確保し、異常の発生では、速やかに不具合部の同定及び原因究明が必要となる。これらの問題を解決するために、より迅速にかつ効率良く少人数で異常原因調査・復旧及び再調整を可能とした健全性診断システムの考案・開発を実施した。更に同診断システムが装置全体の健全性維持に有効であることを実証した。

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使用言語	:	Japanese
報告書番号	:	JAERI-Tech 97-044
ページ数	:	20 Pages
発行年月	:	1997/09
特許データ	:
PDF	:	JAERI-Tech-97-044.pdf:1.03MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-tech-97-044
キーワード	:	JT-60; ICRF; 高周波加熱; 診断システム
使用施設	:
広報プレスリリース	:
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受委託・共同研究相手機関	:
他機関報告書番号	:

Access	:	- Accesses
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登録番号 : T19970044
抄録集掲載番号 : 250774

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