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Electron irradiation effects on electrical properties of a Bi$$_{1.4}$$Pb$$_{0.6}$$Sr$$_{2}$$Ca$$_{2}$$Cu$$_{3}$$O$$_{10}$$ superconductor

超電導体Bi$$_{1.4}$$Pb$$_{0.6}$$Sr$$_{2}$$Ca$$_{2}$$Cu$$_{3}$$O$$_{10}$$の電気的性質に及ぼす電子線照射効果

白石 健介; 伊藤 洋; 加藤 隆彦*

Shiraishi, Kensuke; not registered; not registered

焼結したBi$$_{1.4}$$Pb$$_{0.6}$$Sr$$_{2}$$Ca$$_{2}$$Cu$$_{3}$$O$$_{10}$$を1MeVの電子線を室温で8$$times$$10$$^{19}$$m$$^{-2}$$まで照射し、照射による電気抵抗-温度曲線の変化を調べた。線束密度を1.1$$times$$10$$^{15}$$m$$^{-2}$$・s$$^{-1}$$にして電子線を1$$times$$10$$^{19}$$m$$^{-2}$$まで照射すると、電流密度を125kA・m$$^{-2}$$にして測定した超電導転移温度は照射前の90.7-92.5Kから96.3Kまで上昇し、電気抵抗率は僅かに減少する。その後照射を続けると、電気抵抗率は照射量に対してほぼ直線的に増加する。また、超電導転移温度は徐々に低下する。照射前の88kA・m$$^{-2}$$の電流密度で測定した転移温度が104.0Kであった試料は5.5$$times$$10$$^{15}$$m$$^{-2}$$・s$$^{-1}$$の線束密度で8$$times$$10$$^{19}$$m$$^{-2}$$まで電子線を照射すると、転移温度は照射量増加とともにほぼ単調に低下する。これらのことは、Bi系の焼結ペレットでは、1$$times$$10$$^{19}$$m$$^{-2}$$程度まで線束密度を小さくした電子線の照射を行うと、結晶粒界の弱結合をも含めた微細な偏析物が溶解することによって、臨界電流密度が上昇することを示している。

no abstracts in English

発表言語

 :

English

掲載資料名

 :

Japanese Journal of Applied Physics

巻

 :

30

号

 :

5B

ページ数

 :

p.L894 - L897

発行年月

 :

1991/05

発表会議名

 :

開催年月

 :

開催都市

 :

開催国

 :

キーワード

 :

超電導; Bi(Pb)SrCaCuO; セラミック; 電子線照射; 電気抵抗率; 転移温度; 臨界電流密度; 偏析物の溶解

特許データ

 :

PDF

 :


論文URL

 :

https://doi.org/10.1143/JJAP.30.L894

研究データの公開先DOI

 :

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使用施設

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広報プレスリリース

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論文解説記事
(成果普及情報誌)

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受委託・共同研究相手機関

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Access

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パーセンタイル：42.39

分野：Physics, Applied

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