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Microstructure in electron irradiated Ba$$_{2}$$YCu$$_{3}$$O$$_{7}$$ superconducters

電子線照射したBa$$_{2}$$YCu$$_{3}$$O$$_{7}$$超電導体の電子顕微鏡組織

白石 健介; 伊藤 洋

Shiraishi, Kensuke; not registered

焼結した単相のBa$$_{2}$$YCu$$_{3}$$O$$_{7}$$ペレットから切り出した試料をアルゴンイオンを照射し薄膜化した後、加速電圧200kVの電子顕微鏡を用いた電子線照射中に生じる組織の変化を連続的に直接観察した。イオンミーリングしたBa$$_{2}$$YCu$$_{3}$$O$$_{7}$$結晶では、間隔が1.17nmである(001)面の格子像に平行して、20~100nmの長さで、2~10nmの厚さの双晶薄片が観察される。また、この双晶薄片の周辺には、約10nmの大きさの欠陥集合体が優先的に生成している。通常の電子顕微鏡で組織を観察中に、欠陥集合体は徐々に大きくなり、双晶薄片は次第に消失する。これらの電子顕微鏡組織の変化は、Ba$$_{2}$$YCu$$_{3}$$O$$_{7}$$ペレットを電子線照射すると、電気抵抗が増加し、高電流密度で測定した超電導転移温度が上昇することとよく対応している。

no abstracts in English

使用言語

 :

English

掲載資料名

 :

High Temperature Superconductors

巻

 :

号

 :

ページ数

 :

p.325 - 332

発行年月

 :

1991/00

発表会議名

 :

開催年月

 :

開催都市

 :

開催国

 :

キーワード

 :

超電導体; Ba$$_{2}$$YCu$$_{3}$$O$$_{7}$$; 焼結ペレット; 電子顕微鏡組織; 双晶; 照射欠陥; 格子像; 超電導転移温度; 電気抵抗; イオンミーリング

特許データ

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