検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

放射線管理測定における校正用線源の表面放出率決定のための2$$pi$$計数管システム

A 2$$pi$$-counting system used for determining surface emission rate of calibration sources in radiation protection measurements

吉田 真; 川崎 克也 ; 間辺 巖

Yoshida, Makoto; Kawasaki, Katsuya; not registered

面線源の表面放出率決定のため、2$$pi$$計数管システムを設計した。計数管は、線源位置及び試料の厚さにおいて良いプラトー特性を示し、ISOの基準線源を収納して測定することができる。本システムは、放射線管理測定における校正用線源のトレーテビリティのための仲介測定器として有効に利用できる。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.