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Photon-stimulated ion desorption from condensed SiCl$$_{4}$$ by resonant excitation at the K-edges

K-吸収端共鳴励起によるSiCl$$_{4}$$凝縮層からのイオンの脱離

馬場 祐治  ; 吉井 賢資  ; 佐々木 貞吉

Baba, Yuji; Yoshii, Kenji; Sasaki, Teikichi

SiCl$$_{4}$$凝縮層に、Si-及びCl-K吸収端付近のエネルギーをもつ放射光を照射した時のイオンの脱離挙動を調べた。Si1s励起ではSi$$^{+}$$、Cl$$^{+}$$、SiCl$$^{+}$$、SiCl$$_{3+}$$がほぼ同程度の強度で脱離したが、Cl1s励起では、脱離イオンの80%以上がCl$$^{+}$$であり、内殻励起による脱離に元素選択性があることを見出した。Cl1s励起におけるCl$$^{+}$$イオンは主としてCl1s$$rightarrow$$$$alpha$$$$^{ast}$$(8a$$_{1}$$)共鳴励起により脱離し、Cl1s$$rightarrow$$$$alpha$$$$^{ast}$$(9t$$_{2}$$)共鳴励起や、より高い照射エネルギーではほとんど脱離しない。これは8a$$_{1}$$軌道の構成成分として反結合性Cl3P$$^{ast}$$軌道が多いため、1s軌道から共鳴励起された電子(スペクテーター電子)の存在により、Si-Cl結合が弱められるためであると結論した。

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分野:Chemistry, Physical

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