Baba, Yuji; Yamamoto, Hiroyuki; Sasaki, Teikichi
X線光電子分光法やオージェ電子分光法等において観測される内殻軌道のエネルギーシフト(化学シフト)は、化学結合の形成による内殻軌道のポテンシャルシフト(始状態シフト)と内殻イオン化にともなう軌道電子の再配列の結果生じるエネルギー緩和(終状態シフト)の2つの要因で起こる。本研究では後者の軌道エネルギー緩和の効果を調べるため、遷移金属中に捕捉された希ガス原子の内殻光電子スペクトル、オージェ電子スペクトルのエネルギーシフトを種々の系について解析した。その結果、希ガス原子の内殻イオン化過程における軌道緩和エネルギーは、気相や表面吸着した希ガス原子に比べはるかに大きいことを見出した。また軌道エネルギー緩和の要因となる内殻正孔の遮蔽は、主として母体遷移金属のd電子により引き起こされること、希ガスの原子半径が大きいほど軌道緩和エネルギーが増大すること等を明らかにした。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 287-288 |
号 |
: | |
ページ数 |
: | p.806 - 810 |
発行年月 |
: | 1993/00 |
発表会議名 |
: | |
開催年月 |
: | 1992/10 |
開催都市 |
: | Netherlands |
開催国 |
: | |
キーワード |
: | Rare Gas; Transition Metal; XPS; XAES; Relaxation; Core-level Electronic Structure; Screening |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：52.41 分野：Chemistry, Physical |
Altmetrics |
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