Determination of radial position in the measurement of electron temperature profiles from electron cyclotron emission

電子サイクロトロン放射による電子温度分布測定における半径方向位置決定

Sato, Masayasu; Isei, Nobuaki; Isayama, Akihiko; Ishida, Shinichi; Shirai, Hiroshi

電子サイクロトロン放射(ECE)による電子温度分布測定の空間位置決定に関しては、内部磁場、相対論的ダウンシフト効果、光学的厚さ効果等が重要である。本講演では、相対論的ダウンシフト効果と相対論的効果と切り離して議論することが難しい光学的厚さ効果の電子温度分布測定の空間位置決定に及ぼす影響について評価した。これらの効果は測定された電子温度分布のみかけ上の半径方向のずれとなって現われる。JT-60Uプラズマに対して、このずれのプラズマパラメータ依存性を明らかにし、JT-60UプラズマのECE計測データに対して、これらの効果の補正を行った電子温度分布の測定結果及び任意のトカマク装置に適用できるずれのスケーリングについて発表する。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Proc. of 1996 Int. Conf. on Plasma Physics, Vol.2
巻	:
号	:
ページ数	:	p.1438 - 1441
発行年月	:	1997/00
発表会議名	:	1996 Int. Conf. on Plasma Physics; ICPP 96
開催年月	:	1996/09
開催都市	:	名古屋
開催国	:
キーワード	:	電子サイクロトロン放射; 相対論的ダウンシフト効果; 光学的厚さ効果; 電子温度分布; プラズマ診断; トカマク

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登録番号 : B19960251
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