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Requirements in the edge for H-mode transitions

Hモード遷移のためのプラズマ周辺部における条件

松本 宏; 船橋 昭昌; 星野 克道; 川島 寿人; 河上 知秀; 前田 彦祐; 的場 徹; 松田 俊明; 三浦 幸俊; 森 雅博; 中沢 一郎*; 小田島 和男; 小川 宏明; 小川 俊英; 大麻 和美; 仙石 盛夫; 荘司 昭朗; 鈴木 紀男; 玉井 広史 ; 上杉 喜彦

Matsumoto, Hiroshi; not registered; Hoshino, Katsumichi; Kawashima, Hisato; Kawakami, Tomohide; Maeda, Hikosuke; Matoba, Toru; Matsuda, Toshiaki; Miura, Yukitoshi; Mori, Masahiro; Nakazawa, Ichiro*; Odajima, Kazuo; Ogawa, Hiroaki; Ogawa, Toshihide; not registered; Sengoku, Seio; Shoji, Teruaki; Suzuki, Norio; Tamai, Hiroshi; Uesugi, Yoshihiko

JFT-2M装置におけるHモード遷移のための周辺プラズマ条件が調べられた。遷移時の周辺電子温度、電子密度の測定により、一定の加熱条件の下では、電子温度と密度の両方が条件となっており、密度の高い所では、低い温度で遷移することが明らかになった。

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