超高輝度マイクロビームのエミッタンス測定

A New method of emittance measurement for electron beams from the micro-emitter

石塚浩*; 中原百合子*; 川崎温*; Musyoki, S.*; 清水宏*; 渡辺聡彦*; 志甫諒

Ishizuka, H.*; not registered; Kawasaki, S.*; Musyoki, S.*; not registered; not registered; not registered

高輝度、低エミッタンスのマイクロエミッターからの電子ビームのエミッタンス測定法について考察し、新しいエミッタンス測定法を提案する。

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使用言語	:	Japanese
報告書番号	:	JAERI-M 94-047
ページ数	:	19 Pages
発行年月	:	1994/03
特許データ	:
PDF	:	JAERI-M-94-047.pdf:0.58MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-m-94-047
キーワード	:	Micro-emitter; Low-emittance; Cathode; High Brightness; Accelerator
使用施設	:
広報プレスリリース	:
論文解説記事 (成果普及情報誌)	:
受委託・共同研究相手機関	:
他機関報告書番号	:

Access	:	- Accesses
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登録番号 : M19940047
抄録集掲載番号 : 220267

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