Angle-resolved soft X-ray emission and absorption spectroscopy of hexagonal boron nitride

六方晶窒化ホウ素の角度分解軟X線発光・吸収分光

村松 康司; 兼吉 高宏*; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*

Muramatsu, Yasuji; Kaneyoshi, Takahiro*; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*

ホウ素材料の状態分析に必要な分光データを取得するため、六方晶窒化ホウ素の軟X線発光・吸収スペクトルを測定し、そのスペクトル形状を分子軌道法を用いて解析した。その結果、六方晶窒化ホウ素のBK/NK X線発光・吸収スペクトルでは明瞭な出射・入射角依存性が観測され、この角度依存性はホウ素及び窒素原子の軌道と軌道の配向を考慮した電子状態密度スペクトルにより再現できた。また,NK X線発光スペクトルの角度依存性から、窒化ホウ素の層構造の乱れを定量的に評価できることを見いだした。

Angle-resolved soft X-ray emission and absorption spectra in the BK and NK regions of hexagonal BN were measured using polarized synchrotron radiation. The take-off/incident-angle-dependence on the spectral features in both X-ray emission and absorption is clearly observed. The configuration of the s and p orbitals, which were calculated using discrete variaional (DV) -Xa molecular orbital calculations, explains the angle-resolved soft X-ray emission and absorption spectra. The relative peak intensity of the 394-eV peak in the NK X-ray emission provides useful information about the BN layer ordering.