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グラファイトと六方晶窒化ホウ素の軟X線発光・吸収スペクトルにおける$$pi$$/$$sigma$$成分比の出射・入射角依存性

Take-off/incident-angle-dependence of $$pi$$/$$sigma$$ peak intensity ratio in soft X-ray emission and absorption spectra of graphite and hexagonal boron nitride

村松 康司; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*

Muramatsu, Yasuji; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*

高配向性熱分解グラファイト(HOPG)と六方晶窒化ホウ素(h-BN)の軟X線発光・吸収スペクトル(CK,BK,NK領域)において、$$pi$$/$$sigma$$成分比の出射・入射角依存性を測定した。いずれのスペクトルについても$$pi$$/$$sigma$$成分比には顕著な角度依存性が観測され、これは$$pi$$軌道と$$sigma$$軌道の配向を考慮した解析により説明できた。また、この$$pi$$/$$sigma$$成分比の角度依存性から、結晶子のc軸配向の程度を示す情報が得られることが示唆された。

Take-off/incident-angle-resolved soft X-ray emission and absorption spectra of highly oriented pyrolytic graphite (HOPG) and hexagonal boron nitride (h-BN) are measured by using polarized synchrotron radiation. The angle-dependent $$pi$$/$$sigma$$ peak intensity ratio can be explained by the configuration of $$pi$$- and $$sigma$$-orbitals, which provides the information of layer ordering in the graphite-like layered materials.

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