Size-selective extended X-ray absorption fine structure spectroscopy of free selenium clusters

自由セレンクラスターのサイズ選択広域X線吸収微細構造分光

永谷 清信*; 八尾 誠*; 早川 鉄一郎*; 大政 義典*; 梶原 行夫*; 石井 真史*; 片山 芳則

Nagaya, Kiyonobu*; Yao, Makoto*; Hayakawa, Tetsuichiro*; Omasa, Yoshinori*; Kajihara, Yukio*; Ishii, Masashi*; Katayama, Yoshinori

中性の自由クラスターのサイズ選択EXAFS(広域X線吸収微細構造)に関する新しい方法を提案した。そこでは、X線吸収過程のみならず、下方遷移過程もまた構造情報を得るために用いられる。この方法を実験的に実証するため、われわれはEXAFSと光電子光イオンコインシデンスを同時に測定する方法を開発し、第3世代強力X線源を用いることによってセレンクラスタービームに対する実験を行った。セレンの小さなクラスターに対するEXAFSスペクトルが得られ、理論的な予言と批判的に比較された。

Recently, we proposed a new method for the size-selective EXAFS(Extended X-ray absorption fine structure) of neutral-free culsters, in which not only the X-ray absorption process but also the deexitation process are utilized as the structural information. In order to verify this method experimentally, we have developed the synchronous measurements of EXAFS and photoelectron photoion coincidence and carried them out for a Se cluster beam by utilizing the third-generation intense X-ray source. The EXAFS spectra for Se small clusters have been obtained and compared critically with theoretical predictions.