標準的な固体炭素化合物の軟X線発光・吸収スペクトル

Soft X-ray emission and absorption spectra of typical solid carbon compounds

村松 康司; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*

Muramatsu, Yasuji; Gullikson, E. M.*; Perera, R. C. C.*

炭素材料の軟X線発光・吸収分光測定において、標準試料となり得る代表的な固体炭素化合物(高配向性熱分解グラファイト(HOPG),カーボンナノチューブ,ダイヤモンド,カーボンブラック,フラーレン(C, C),ポリエチレン,-テルフェニル,アントラセン)の放射光励起CKX線発光・吸収スペクトルを同一条件下で測定した。また、結晶構造の異方性を反映するHOPGの出射・入射角依存スペクトルを測定し、角度依存性測定における留意点を示した。さらに、DV-X分子軌道計算法によって算出した電子状態密度と軟X線スペクトルを比較し、これら炭素化合物の軟X線スペクトル解析におけるDV-X分子軌道計算法の有効性を示した。

Soft X-ray emission and absorption spectra in the CK region of typical solid carbon compounds (HOPG, carbon nanotube, diamond, fullerene, polyethylene, -terphenyl, anthracene) are demonstrated. Take-off/incident-angle dependent X-ray spectra of HOPG are also shown to utilize for the structural analysis of anistropic crystals. Spectral analysis of these compounds using discrete variational (DV)-X molecular orbital calclations is also demonstrated.