X線でさぐる電極表面構造

Surface structure of electrode by X-ray scattering measurement

水溶液中の電極表面の構造をその場でかつ原子分解能で測定する手法として、X線回折法は優れた特徴を持つ。第一に、高い透過性により、試料まわりの雰囲気に影響されにくく、水溶液の存在に影響を受けにくい。第二に、逆格子ロッドに沿った、いわゆるCTR散乱を測定することにより、表面に対する敏感性を持つ。これらの特徴を生かして、Te/Au(111), Cd/Au(111)の電析膜の構造を解析し、電気めっきによるCdTe単結晶膜の品質向上につながる知見を得た。また、Au(111)基板と整合したPd単原子膜を電気めっきにより作製できることを示した。近年、X線による構造解析手法は、モデルに依存しない原子分解能イメージングを目指した進展が顕著であり、その例を簡単に紹介した。

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使用言語	:	Japanese
掲載資料名	:	電気化学及び工業物理化学
巻	:	72
号	:	2
ページ数	:	p.128 - 132
発行年月	:	2004/02
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キーワード	:	電気化学的方法; 電極表面; X線回折; CTR散乱; Te/Au(111); Cd/Au(111); Pd/Au(111)

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使用施設	:	SPring-8(大型放射光施設)
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登録番号 : A20030620
抄録集掲載番号 : 320452
論文投稿番号 : 20911

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