X-ray diffraction measurements for expanded fluid Se using synchrotron radiation up to the dense vapor region

高密度蒸気領域にいたる超臨界状態セレンの放射光によるX線回折測定

乾雅祝*; Hong, X.*; 松坂鉄矢*; 石川大介*; Kazi, M. H.*; 田村剛三郎*; 舟越賢一*; 内海渉

Inui, Masanori*; Hong, X.*; Matsusaka, Tetsuya*; Ishikawa, Daisuke*; Kazi, M. H.*; Tamura, Kozaburo*; Funakoshi, Kenichi*; Utsumi, Wataru

超臨界状態のセレンの構造を液体から高密度蒸気領域にいたる広い温度圧力範囲で、放射光によるX線回折測定の手段により測定した。この実験のため、新しい高圧容器が設計され、それによりX線回折データの質が大幅に上昇し、構造因子の精度が増した。測定は半導体-金属転移の起こる800bar, 600-1500 $^{circ}$ C領域をカバーし、また1650 $^{circ}$ C, 300-441barの高密度蒸気の構造因子が初めて決定された。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Journal of Non-Crystalline Solids
巻	:	312-314
号	:
ページ数	:	p.274 - 278
発行年月	:	2002/10
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	高温; 高圧; 超臨界; セレン; 放射光; X線回折

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1016/S0022-3093(02)01683-6
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:	SPring-8(大型放射光施設)
広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
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登録番号 : A20040297
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