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X-ray diffraction measurements for expanded fluid Se using synchrotron radiation up to the dense vapor region

高密度蒸気領域にいたる超臨界状態セレンの放射光によるX線回折測定

乾 雅祝*; Hong, X.*; 松坂 鉄矢*; 石川 大介*; Kazi, M. H.*; 田村 剛三郎*; 舟越 賢一*; 内海 渉

Inui, Masanori*; Hong, X.*; Matsusaka, Tetsuya*; Ishikawa, Daisuke*; Kazi, M. H.*; Tamura, Kozaburo*; Funakoshi, Kenichi*; Utsumi, Wataru

超臨界状態のセレンの構造を液体から高密度蒸気領域にいたる広い温度圧力範囲で、放射光によるX線回折測定の手段により測定した。この実験のため、新しい高圧容器が設計され、それによりX線回折データの質が大幅に上昇し、構造因子の精度が増した。測定は半導体-金属転移の起こる800bar, 600-1500$$^{circ}$$C領域をカバーし、また1650$$^{circ}$$C, 300-441barの高密度蒸気の構造因子が初めて決定された。

no abstracts in English

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パーセンタイル:31.85

分野:Materials Science, Ceramics

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