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Relativistic laser plasma from micron-sized argon clusters as a debris-free X-ray source for pulse X-ray diffraction

巨大アルゴンクラスターを用いたX線回折用デブリフリーX線源としての相対論的レーザープラズマ

福田 祐仁; 赤羽 温; 青山 誠; 井上 典洋*; 上田 英樹; 中井 善基*; 辻 公一*; 山川 考一; 弘中 陽一郎*; 岸村 浩明*; 森下 裕人*; 近藤 建一*; 中村 一隆*

Fukuda, Yuji; Akahane, Yutaka; Aoyama, Makoto; Inoue, Norihiro*; Ueda, Hideki; Nakai, Yoshiki*; Tsuji, Koichi*; Yamakawa, Koichi; Hironaka, Yoichiro*; Kishimura, Hiroaki*; Morishita, Hiroto*; Kondo, Kenichi*; Nakamura, Kazutaka*

レーザー光(レーザー強度6$$times$$10$$^{18}$$W/cm$$^{2}$$,パルス幅30fs)を巨大アルゴンクラスターに照射して発生させたX線を用いてSi(111)結晶からのX線回折実験を行った。発生したHe$$_{alpha1}$$線(3.14keV)のフォトン数、及び、線幅は、それぞれ、4$$times$$10$$^{7}$$photons/shot/4$$pi$$sr、及び、3.7eV(FWHM)であった。これらは、時間分解X線回折実験を行うためのデブリフリー光源として十分な値を有している。

We have demonstrated diffraction from Si(111) crystal using X-rays from highly ionized Ar ions produced by laser irradiation with an intensity of 6$$times$$10$$^{18}$$ W/cm$$^{2}$$ and a pulse duration of 30 fs acting upon micron-sized Ar clusters. The measured total photon flux and line width in the He$$_{alpha1}$$ line (3.14 keV) were 4$$times$$10$$^{7}$$ photons/shot/4$$pi$$sr and 3.7 eV (FWHM), respectively, which is sufficient to utilize as a debris-free light source for time-resolved X-ray diffraction studies.

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パーセンタイル:57.8

分野:Physics, Applied

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