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軟X線分光で観た垂直磁化膜; [Co/Pd]$$_{n}$$多層膜及び希土類遷移金属アモルファス薄膜を例にして

Investigation of perpendicular magnetic films by means of soft X-ray spectroscopy; [Co/Pd]$$_{n}$$ multilayered films and RE-TM amorphous films

安居院 あかね; 水牧 仁一朗*

Agui, Akane; Mizumaki, Masaichiro*

強い垂直磁気異方性を示す磁性材料が高密度磁気記録媒体として不可欠となっている。例えば、Co/Pd人工格子多層膜やTbFeCoアモルファス膜は有望な磁気記録材料として注目されている。これまで、垂直磁化膜の磁気異方性エネルギーや保磁力など膜全体の磁気特性の報告が多くなされている。一方、膜の構成元素ごとの磁気特性について着目し元素選択的・軌道選択的に測定した物理量と、前述した系全体を表す物理量との相関について研究している例は少ない。本稿では軟X線磁気円二色性分光測定を用い、垂直磁化膜の磁気特性を元素選択的・軌道選択的観点から研究した例を紹介する。

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