Variation of the defects on change of the irradiation temperature in LiF

LiF単結晶の照射過度の変化による格子欠陥の変化

LiF単結晶を、照射過度を変えて、中性子照射した結果を、Emission spectrumの測定から調べた。実験結果から(1)室温照射では、点欠陥が結晶内に一様に分散している。(2)低温照射では、Cluster defectが多く、点欠陥が少ないとの結論に達した。

no abstracts in English

使用言語	:	English
掲載資料名	:	Journal of the Physical Society of Japan
巻	:	35
号	:	5
ページ数	:	P. 1560
発行年月	:	1973/05
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	LiF; Irradiation; Neutron; Defects; Emission

特許データ	:
PDF	:

論文URL	:
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:
広報プレスリリース	:
論文解説記事 (成果普及情報誌)	:
受委託・共同研究相手機関	:

Access	:	- Accesses
Web of Science® Times Cited Count	:	被引用回数：評価・統計等のため最新の被引用回数を確認したい場合は、直接Web of Science®をご確認ください。 http://www.webofknowledge.com/wos
InCites™	:
Altmetrics	:

登録番号 : A19733217
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 3684

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.