Electron microscopy of fine holes in polyethyleneterephthalate films irradiated by fission fragments

核分裂片照射によるポリエチレンテレフタレートフィルムの微細孔の電子顕微鏡写真

not registered; not registered; Izui, Kazuhiko; not registered

ポリエチレンテレフタレートフィルムに核分裂片照射してのち化学的エツチングをほどこし現出せしめた微細孔を電子顕微鏡で観察した。透過型超高圧電顕によって、厚み6~9mのフィルムを直接観察した。孔密度と孔径とが計測され、前者は照射条件から、後者はフィルムを通過するガス拡散の測定値から算出された値と比較検討され、よい一致がみられた。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Journal of Applied Physics
巻	:	46
号	:	3
ページ数	:	p.1155 - 1158
発行年月	:	1975/03
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
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キーワード	:	Electron microscopy; Fission fragments; Fission tracks; Chemical etching; Polyethyleme tere phthalate film; Fine hole

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1063/1.322216
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Access	:	- Accesses
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登録番号 : A19744149
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 4169

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