Neutron diffraction topographic observation of twinned silicon crystal

中性子トポグラフィによるシリコン双晶の観察

not registered; C.Zeyen*

原研が中心になって行った中性子回折トポグラフィ技法を用いた最近の実験を速報の形でまとめたものである。第一は、ILLの高中性子束炉を用いた実験で、Si双晶片における等原干渉縞の観察結果、および双晶各片がそれぞれ333反射と115反射とを同時に生じ、両片が可干渉の関係にあることの結論を報告する。(国外との共同研究) 第二は、JRR-2のトポグラフィ装置を用いて、直径30mmのCu-5%Ge合金単結晶の観察である。ブリッジマン法で作られたインゴットの内部構造が、表面の目視監察と良く符合して、3種類の{100}面に平行な面状にGeが偏析を生じているらしいことが観察された。

no abstracts in English

使用言語	:	English
掲載資料名	:	Japanese Journal of Applied Physics
巻	:	17
号	:	3
ページ数	:	p.591 - 592
発行年月	:	1978/03
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	中性子; 回折; トポグラフィ; シリコン; 双晶; 可干渉

特許データ	:
PDF	:

論文URL	:	https://doi.org/10.1143/JJAP.17.591
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:
広報プレスリリース	:
論文解説記事 (成果普及情報誌)	:
受委託・共同研究相手機関	:

Access	:	- Accesses
Web of Science® Times Cited Count	:	被引用回数：評価・統計等のため最新の被引用回数を確認したい場合は、直接Web of Science®をご確認ください。 http://www.webofknowledge.com/wos
InCites™	:
Altmetrics	:

登録番号 : A19777498
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 4961

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.