Small angle scattering from neutron irradiated amorphous Pd $_{8}$ $_{0}$ Si $_{2}$ $_{0}$

中性子照射を受けた非晶質合金Pd $_{8}$ $_{0}$ Si $_{2}$ $_{0}$ のX線小角散乱

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非晶質合金Pd $_{8}$ $_{0}$ Si $_{2}$ $_{0}$ をJMTRの速中性子により510 $^{2}$ $^{0}$ /cm $^{2}$ のフルエンスに照射した試料のX線小角散乱を測定した。X線広角散乱には照射による変化は殆ど認められないことはすでに報告した(登録No.A-7199)。CuK線を用い散乱角15'~5°の範囲の測定を行ったところ、照射によりこの範囲の散乱強度が著しく増大していることを見た。未照射試料についてはこの範囲での散乱強度は殆ど0である。この散乱強度分布より、中性子照射により数10程度の構造のゆらぎが生じたことを結論した。前報の結果と併せて非晶質物質の照射損傷の様子が結晶性物質のそれとどのように異なるかについて一般的な考察を行なう。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Journal of Applied Crystallography
巻	:	11
号	:	5
ページ数	:	P. 605
発行年月	:	1978/00
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	Small-angle Scattering; X-rays; Neutron Irradiaion; Amorhphous Alloys; Radiation Damage

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登録番号 : A19788124
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 5238

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Small angle scattering from neutron irradiated amorphous Pd Si

中性子照射を受けた非晶質合金PdSiのX線小角散乱

Small angle scattering from neutron irradiated amorphous Pd $_{8}$ $_{0}$ Si $_{2}$ $_{0}$

中性子照射を受けた非晶質合金Pd $_{8}$ $_{0}$ Si $_{2}$ $_{0}$ のX線小角散乱